Caractérisation des matériaux : les différentes échelles et moyens d’analyse pour le lien matériau-propriétés-modélisation
Le Centre des Matériaux de l’École des Mines de Paris a une longue histoire en Microscopie Electronique à Balayage (MEB), qui débuta en 1967 avec l’arrivée du deuxième MEB installé en France – il s’agissait alors d’un MEB Cambridge Stereoscan Mk II équipé d’un spectromètre WDS horizontal et semi-focalisant et ayant une résolution de 25 nm. Depuis cette époque, la microscopie électronique à balayage a beaucoup évoluée et a connu de nombreuses extensions. Désormais, en plus de la fonction première de réaliser des images de surface d’échantillons à petites échelles avec différents types de détecteurs, des accessoires tel que la microanalyse des rayons X (EDS ou WDS), l’analyse cristallographique par détection de la diffraction des électrons rétrodiffusées (EBSD) sont venus se greffer. Des montages expérimentaux ont également pu être adaptés pour réaliser des expériences in-situ directement dans le MEB. Nous vous proposons de prendre les commandes de nos appareils à partir du domaine de madame Elisabeth pour une démonstration temps réel.
Contact : Fabrice Gaslain
Centre : Centre des matériaux
